2024/04/17 更新

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アライ　ヤスヒコ
新井　泰彦
ARAI,Yasuhiko
所属
システム理工学部 教授
職名
教授
連絡先
メールアドレス
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学位

  • 工学博士 （ 1988年6月 ）

研究分野

  • ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 計測工学  / 光干渉計測 光アクチュエーター

所属学協会

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委員歴

  • メカノフォトニクス専門委員会幹事;校閲委員会幹事  

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  • 精密工学会   メカノフォトニクス専門委員会幹事  

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  • 校閲委員会幹事  

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論文

  • Simulation-based considerations on the Rayleigh Criterion in super-resolution techniques based on speckle interferometry 査読

    新井 ┣K00630┫彦

    Photonics   2023年3月

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  • Possibility of biological observations using the speckle interferometry-based super-resolution technology 査読

    新井 ┣K00630┫彦

    micro   2022年10月

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  • Factors affecting the measurement resolution of super-resolution techniques based on speckle interferometry 査読

    新井 ┣K00630┫彦

    Journal of modern optics   2022年6月

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  • Feasibility of optical bearing fabrication using radiation pressure 査読

    新井 ┣K00630┫彦, 矢根 愛理, 神山 椋丞

    photonics   doi.org/10.3390/mil3050733   2022年5月

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  • Simulation-based verification of the shape measurement mechanism of micro structures beyond the diffraction limit using speckle interferometry 査読

    新井 ┣K00630┫彦

    Journal of modern optics   2021年12月

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  • Shape measurement method of two-dimensional micro-structures beyond the diffraction limit based on speckle interferometry 査読

    新井 ┣K00630┫彦

    Photonics   Vol.8, 420   2021年

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  • Microshape measurement method using speckle interferometry based on phase analysis 査読

    新井 ┣K00630┫彦

    Photonics   Vol.8, 112-   2021年

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  • Precise wide-range three-dimensional shape measurement method to measure superfine structures based on speckle interferometry 査読

    新井 泰彦

    Opt. Eng.   Vol.59   2020年

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  • Consideration of existence of phase information of object shape in zeroth-order diffraction beam using electromagnetic simulation with aperture in front of object 査読

    新井 ┣K00630┫彦

    J. Mod. Opt.   Vol.67,523-530   2020年

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  • Observation of micro-characters using three-dimensional shape measurement method based on speckle interferometry. 査読

    新井 ┣K00630┫彦

    J. Mod. Opt.   Vol.67,1451-1461   2020年

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  • Pre-treatment for preventing degradation of measurement accuracy from speckle noise in speckle interferometry 査読

    新井 泰彦

    Measurement   No.136 36-41 36-41 No.13636-41   2019年1月

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  • Three-Dimensional shape measurement beyond diffraction limit for measurement of Dynamic Events 査読

    新井 泰彦

    Progress in Optomechatronic Technologies,Springer Proceedings in Physics.   No.233   2019年

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  • 3Dプリンタを用いた光放射圧に基づくMEMSモータの開発 査読

    新井泰彦, 佐野弘人

    電気学会論文誌E   Vol.138, No.9 406-411   2018年9月

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  • Three-dimensional shape measurement beyond the diffraction limit of lens using speckle interferometry 査読

    Yasuhiko Arai

    J. Modern Optics   Doi:1080/09500340.2018.1470266   2018年5月

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  • 座屈解析へのスペックル干渉変形計測技術の適用 査読

    新井泰彦

    機械の研究   Vol.69, No.6   2017年6月

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  • Mesaurement of buckling deformation using speckle interferometry with same sensitivity three-demensions 査読

    Y. Arai

    Optical Engineering   Vol. 56 No. 4   2017年4月

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  • Measurement of buckling deformation using speckle interferometry with same sensitivity in three-dimensions

    Yasuhiko Arai

    OPTICAL ENGINEERING   56 ( 4 )   2017年4月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS  

    Speckle interferometry is a useful optical deformation measurement method for objects with rough surfaces. This method can measure not only the out-of-plane but also the in-plane deformation of these objects. Recently, the method has been used to measure three-dimensional (3-D) deformations at a high resolution. Many kinds of 3-D measurement methods based on speckle interferometry have already been proposed. However, the parameters in the sensitivity matrices of these conventional methods are not generally the same in each of the 3-D. Methods for which the sensitivity is not the same in the 3-D cannot be employed as an exact 3-D measurement method because the measurement uncertainty is different in each direction. This paper proposes a method where the sensitivity is the same in 3-D. An optical system was set up based on the concept of the proposed method. A method based on vector analysis is also proposed for detecting the deformation in an arbitrary section of the object. Finally, the 3-D deformation from the buckling of a mechanical beam was measured using in new speckle interferometry. (C) 2017 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE)

    DOI： 10.1117/1.OE.56.4.044102

    Web of Science

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  • 2枚のスペックルパターンのみを用いたスペックル干渉計測法の精度向上 査読

    新井泰彦, 横関俊介

    光学   Vol.46,No.4, 151-159   2017年4月

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  • Influence of error sources in speckle interferometry using only two speckle patterns

    Yasuhiko Arai

    OPTICAL ENGINEERING   55 ( 12 )   2016年12月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS  

    Speckle interferometry is an important deformation measurement method for objects with rough surfaces. Recently, a fringe analysis method that uses only one speckle pattern before deformation and one after deformation was proposed. The measurement accuracy of this method is known to depend on experimental conditions. In this paper, the improvement of the measurement accuracy of this method is discussed in comparison with the advanced technologies of off-axis digital holography. It is highly effective to introduce the experiences of the advanced technologies of digital holography to speckle interferometry. However, it should also be considered that both technologies have different purposes. Because digital holography is basically a technology which records images, the influence of the quantity of deformation has never been discussed in digital holography in detail. In this study, the measurement accuracy of speckle interferometry is investigated through a precise comparison of the experimental results from both technologies. It was confirmed that the conditions for digital holography are not always suitable for improving the measurement accuracy of speckle interferometry. (C) 2016 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE)

    DOI： 10.1117/1.OE.55.12.124101

    Web of Science

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  • 高分解能なスペックル干渉計測法を用いた板座屈における面外・面内変形計測の可能性 査読

    新井泰彦

    精密工学会誌   Vol.82, No.10   2016年10月

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  • Simultaneous in-plane and out-of-plane deformation measurement by speckle multi-recording method

    Yasuhiko Arai

    MEASUREMENT   91   582 - 589   2016年9月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER SCI LTD  

    An in-plane and out-of-plane deformation simultaneous measurement method using only two speckle patterns grabbed before and after deformation of an object with rough surfaces using two cameras has been proposed. However, there are some problems concerning the setup of optical system, the aspect ratio of grabbed image data and so on in the conventional method. To solve these problems, the new optical system is proposed by using the multi-recording technology. Though multi-recording technologies have been already employed conveniently in the off-axis digital holography, the technologies have not been used functionally enough in speckle interferometry. In this paper, an in-plane and out-of-plane deformation simultaneous measurement is performed by the proposed method based on multi-recording technology in speckle interferometry. From experimental results, it can be confirmed that the proposed optical system can measure simultaneously in-plane and out-of-plane deformations in high resolution by one camera. (C) 2016 Elsevier Ltd. All rights reserved.

    DOI： 10.1016/j.measurement.2016.05.037

    Web of Science

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  • スペックル干渉計測に基づく三軸方向に同一測定感度を持つ三次元計測ほぁの開発 査読

    新井泰彦

    光学   Vol.44, No.10, 399-406   2015年10月

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  • 誤差要因と測定精度の向上 査読

    新井泰彦

    機械の研究   Vol.67,No.4,297-306   2015年4月

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  • Development of in-plane and ouy-of-plane deformations simultaneous measurement method for the analysis of buckling 査読

    Yasuhiko Arai

    Optical Engineering   Vol.54, No.2,   2015年1月

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  • 電子スペックル干渉計測による面内・面外同時変形計測 査読

    新井泰彦

    光学   Vol.43,No.12, 570-579   2014年12月

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  • Improvement of measuring accuracy of spatial fringe analysis method using only two speckle patterns in electronic speckle pattern interferometry

    Yasuhiko Arai

    Optical Engineering   Vol.53, No.3,   2014年3月

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  • Electronic speckle pattern interferometry based on spatial information using only two sheets of speckle patterns

    Yasuhiko Arai

    JOURNAL OF MODERN OPTICS   61 ( 4 )   297 - 306   2014年2月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：TAYLOR & FRANCIS LTD  

    Speckle interferometry is an important deformation measurement method for an object with a rough surface. In this paper, a novel fringe analysis method is proposed that uses a new optical system, which uses a plane wave as the reference beam of the speckle interferometer. When the optical system is employed in fringe analysis, the deformation information and the bias components of the speckle patterns are clearly separated in the frequency domain. Therefore, the deformation information can be readily extracted using a Fourier transform, which gives a pair of real and imaginary components concerning the information. The specklegram is calculated using such a pair of components, and the phase map is obtained from the specklegram. Experimental results confirmed that the resolution power of this measurement method is higher than 1/261 of the wavelength of the light source of the optical system.

    DOI： 10.1080/09500340.2014.884651

    Web of Science

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  • 光放射圧を用いた光アクチュエータの開発 査読

    新井泰彦

    機械の研究   Vol.66,N0.12,1003-1010   2013年12月

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  • Fringe analysis method for electronic speckle pattern interferometry using only speckle patterns before and after deformation

    Yasuhiko Arai

    JOURNAL OF MODERN OPTICS   60 ( 15 )   1223 - 1228   2013年9月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：TAYLOR & FRANCIS LTD  

    Electronic speckle pattern interferometry is employed in many industrial fields as a useful deformation measurement method. However, two speckle patterns obtained before and after the deformation are necessary for measurement. Furthermore, at least three speckle patterns are required for high resolution measurement using ordinary fringe scanning technologies. In this paper, a novel method that can measure high speed deformations using a limited number of speckle patterns without using high speed cameras is proposed. The method enables application to dynamic deformation analysis because the method involves analysis using only two speckle patterns obtained before and after the deformation. A novel optical system that can record some spatial information into each speckle is set up for the method. In experimental results, it is confirmed that the out-of-plane deformation measurement can be precisely performed by the method and that the resolution power is almost equivalent to that of the ordinary method.

    DOI： 10.1080/09500340.2013.832817

    Web of Science

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  • 2枚のスペックルパターンのみを用いたフーリエ変換技術による電子スペックル干渉法 査読

    新井泰彦, 横関 俊介

    光学   Vol.42,N0.5, 256-265   2013年5月

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  • 2枚のスペックルパターンのみを用いた高分解能電子スペックル干渉計測法 査読

    新井 泰彦, 井上 拓也, 横関 俊介

    光学   vol.41 No.2   2012年2月

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  • 時間的情報を空間情報に置換することによる高分解能ESPI 査読

    新井 泰彦, 井上拓也, 横関 俊介

    光学   Vol.40, No.6, 290-298   2011年6月

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  • Speckle interferometry by using virtual speckle pattern based on Carr? algorithm

    Yasuhiko Arai, Yasunori Tsutsumi, Marie Kikukawa, Shunsuke Yokozeki

    J.Metrology society of India   Vol.26   2011年

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  • Micro 3D measurement method using SEM

    新井 泰彦, 安藤昌樹, 要石 翔, 横関 俊介

    J.Metrology society of India   Vol.26,No.1,69-78   2011年

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  • Measurenet optimum condition of speckle interferometry based on dual-camera technique 査読

    新井 泰彦, 竹川 徹, 横関 俊介

    Measurement   Vol.44 29-33   2010年

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  • SEMを用いた微細構造物の三次元形状計測法の開発 査読

    新井 泰彦, 安藤昌樹, 横関 俊介

    機械の研究   Vol.62,328-334.   2010年

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  • デュアルカメラ技術を基礎としたスペックル干渉計測による電子デバイスの変形計測 査読

    新井 泰彦, 竹川 徹, 平井宏之, 横関 俊介

    光技術コンタクト   2010年

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  • デュアルカメラ技術を基礎としたスペックル干渉計測による電子デバイスの変形計測 査読

    新井 泰彦, 竹川 徹, 平井宏之, 横関 俊介

    精密工学会誌   vol75,No.11 1323-1328   2009年11月

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  • Carr?アルゴリズムを基礎とするバーチャルスペックルパターンを用いた動的面外変形計測 査読

    新井 泰彦, 堤 泰憲

    光学   vol38, No.10 529-538   2009年10月

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  • Development and Application of Composite Multi-Layered PZT Thin Films

    LiLi, S. Aoyagi, Y. Arai, N. Tagawa

    IEEJ Transactions on Sensors and Micromachines   Vol.129, No.1, P1-5   2009年1月

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  • マルチカメラ技術によるスペックル干渉計測

    新井泰彦, 平井宏之, 横関俊介

    光アライアンス   Vol.19,No.5, 21-25   2009年

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  • Dynamic out―of―plane deformation measurement using virtual speckle patterns

    Y. Arai, R. Shimamura, S. Yokozeki

    Optics and Lasers in Engineering   Vol.47, 563-569   2009年

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  • 二次曲面を用いた動的スペックル干渉計測法

    新井泰彦, 村島大裕, 横関俊介

    光アライアンス   Vol.20, No.3, 43-48   2009年

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  • Dynamic out-of-plane deformation measurement using virtual speckle patterns,

    新井 泰彦, 横関 俊介

    Optics and Lasers in Engineering   Vol.47, 563-569   2009年

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  • Combined Harpoonlike Jagged Microneedles Imitating Moszuito's Probscis and Its Insertion Experiment with Vibration

    Hayato Izumi, Tsubasa Yajima, Seiji Aoyagi, Norio Tagawa, Yasuhiko Arai, Masayuki Hirata, Shiro Yorifuji

    TRANSACTONS ON ELECTRICAL AND ELECTRLNIC ENGINEERING   Vol.3, p425-431   2008年8月

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  • Electronic speckle pattern interferometry based on spatial fringe analysis method using two cameras

    Y. Arai, H. Hirai, S. Yokozeki

    J. Modern Opt.   Vol. 55, No.2 281-296   2008年

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  • 単調位相増加条件を必要としない変形過程情報のみを用いた高分解能スペックル干渉法

    新井泰彦, 島村遼一, 横関俊介

    光学   Vol. 37, No.1, 41-49   2008年

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  • 電子スペックル干渉計測におけるバーチャルスペックルパターンを用いた面内変形計測

    新井泰彦, 島村遼一, 横関俊介

    光学   Vol. 37, No.2, 119-129   2008年

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  • High-resolution dynamic measurement using electronic speckle pattern interferometry based on multi-camera technology

    Y. Arai, H. Hirai, S. Yokozeki

    Optics and lasers in Engg.   46, 733-738   2008年

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  • バーチャルスペックルパターンを用いた高分解能ダイナミック面内変形計測

    新井泰彦, 島村遼一, 横関俊介

    光学   Vol.37, No.10, 600-609   2008年

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  • リサイクル作業を想定したサポートベクタマシンによる電子回路基板からのコンデンサ部品の画像抽出

    青柳誠司, 河野広岳, 矢野有美, 新井泰彦, 見浪 護

    精密工学会誌   71 (9), 1074-1079   2007年

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  • Micro－three dimensional shape measurement method based on shadow moiré using scanning electron microscopes

    Y. Arai, S. Yokozeki

    J. Modern Opt.   2006年

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    校閲終了

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  • control of phase of fringes in speckle interferometry for application of fringe scanning method

    新井泰彦, S. Yokozeki

    J. mordern optics   Vol.52,No.10 pp.1355-1366   2005年7月

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  • SEMを用いたモアレトポグラフィーに基づくマイクロ構造物の測定法の開発 査読

    新井泰彦, 横関俊介

    光学   34巻4号 225-229頁   2005年4月

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  • SEMを用いたモアレトポグラフィに基づく三次元形状計測法の高分解能化

    新井泰彦, 横関俊介

    光学   34(10), 540-546   2005年

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  • SEMを用いたモアレトポグラフィに基づく三次元形状計測における縞走査技術の導入 査読

    新井泰彦

    光学   2005年

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  • In-plane displacement measurement using ESPI based on spatial fringe analysis method

    新井泰彦, S. Yokozeki

    Opt. Engg.   43(9), 2168-2174   2004年

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  • Fabrication of micro needle for a trce blood test

    新井泰彦

    Sensors and actuators   2002年

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  • 空間的縞解析法を用いた電子スペックル干渉法におけるオプティカルディスロケーション発生とフィルタリング処理との関係 査読

    新井泰彦

    光学   2002年

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  • マイクロカンチレバーの曲げ応用の推定（マクロモデルによる測定原理の検討） 査読

    新井泰彦

    日本機械学会論文集（Ｃ 編）   Vol.67 No.656 pp.1016-1023   2001年4月

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  • Estimation of inside stress of microcantilever 査読

    新井泰彦

    Recent Res. Devel. optics   2001年

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  • 空間的縞解析法を用いた電子スペックル干渉法のパラメータ設定 査読

    新井泰彦

    光学   2001年

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  • 空間的縞解析法の通信理論にもとづく検討 査読

    新井泰彦

    光学   2001年

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  • Improvement of measuring accuracy of spatial fringe analysis method using a Kalman filter and its application

    新井泰彦

    Optical Engneering   2001年

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  • ２次元空間的縞解析法のスペックル干渉法への適用 査読

    新井泰彦

    光学   2000年

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  • キャビティー長可変ファブリ・ペロー干渉計を用いたカラー表示装置の表示特性に関する検討 査読

    新井泰彦

    電気学会論文誌E   Vol.120-E No5 pp252-257   2000年

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  • Analysis of moire fringe profiles produced by gratings with irregularites 査読

    新井泰彦

    Recent Re. Devel. Optical Engg   1999年

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  • Improvement of measurement accuracy in shadow moiré by considering the influence of harmonics in the moiré profile

    新井泰彦

    Applied Optics   Vol38 No16 pp.3503-3507   1999年

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  • カルマンフィルターによる空間的縞解析法の測定精度の改善 査読

    新井泰彦

    光学   1999年

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  • モアレトポグラフィを用いた大振幅を伴う振動現象の変位測定 査読

    新井泰彦

    日本機械学会論文集c   1998年

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  • ３次元解析に基づく屈折率分布再構成の精度向上 査読

    新井泰彦

    medical imageing technology   1998年

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  • Automatic spatial fringe analysis method for two dimensional fringes image including phase discontinuities by obstructions

    新井泰彦

    J.modern optics   1998年

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  • Evalution of reconstructing accuracy of 3-D ART

    新井泰彦

    Int. J. JSPE   1998年

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  • High - speed two - dimensional fringe analysis using frequency demodulation

    新井泰彦

    Opt . Eng   Vol.36 No9 pp.2489-2495   1997年9月

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  • high precision two-dimensinal spatial fringe analysis method

    新井泰彦

    Simulation and Experiment in laser metrology   1996年

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  • モアレ技術による可視化 査読

    新井泰彦

    精密工学会誌   1996年

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  • 周波数復調技術を用いた二次元高速縞解析 査読

    新井泰彦

    光学   1996年

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  • サンプリング技術を用いたCCD画像の空間的縞解析法の改善 査読

    新井泰彦

    光学   1995年

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  • ARTに最小自乗法を用いた３次元屈折率分布の測定 査読

    新井泰彦

    medical image technology   1995年

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  • モアレ縞プロフィルの高調波成分を考慮したShadow moire の高精度化 査読

    新井泰彦

    光学   1995年

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  • CCD駆動パルスを用いた高速縞解析におけるphase-unwrapping ハイブリッドシステム 査読

    新井泰彦

    光学   1995年

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  • CCD駆動パルスをタイムベースとした高速縞解析法 査読

    新井泰彦

    光学   1994年

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  • FM復調技術を用いたアナログ処理による干渉縞の位相検出 査読

    新井泰彦

    光学   1994年

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  • 動的測定のための高感度実体格子型モアレトポグラフィ法 査読

    新井泰彦

    光学   1992年

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  • 実体格子型モアレトポグラフィ法の高感度化 査読

    新井泰彦

    光学   1992年

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  • Development of long span, high precision absolute linear scale by moire fringes 査読

    新井泰彦

    Journal of robotics and mechatronics   1991年

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  • Automatic fringe analysis of moire interferometry

    新井泰彦

    Journal of robotics and mechtronics   1991年

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  • Automatic ３D measurement system by the grid illumination type moire method 査読

    新井泰彦

    J. Robotics and mechatronics   1991年

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  • モアレ干渉法の自動縞解析 査読

    新井泰彦

    光学   1991年

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  • 格子照射型モアレトポグラフィ法におけるモアレ画像の２値化法 査読

    新井泰彦

    1991年

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  • 液晶パネルを用いた格子照射型モアレトポグラフィの自動化 査読

    新井泰彦

    モアレ・三次元計測研究会年報   1990年

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  • 縞走査法による格子照射型モアレトポグラフィの測定精度向上 査読

    新井泰彦

    光学   1989年

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  • 強度に屈折する透明物体の三次元屈折率分布の測定 査読

    新井泰彦

    光学   1989年

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  • Moire deflectometry とCT法を用いた三次元屈折率分布測定法 査読

    新井泰彦

    光学   1988年

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  • 縞走査干渉計の手法によるMoire defrectmetry 査読

    新井泰彦

    精密工学会誌   1988年

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  • Binarization of scanning moire fringe pattern

    新井泰彦

    Optics and lasers in engineering   1988年

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  • Analysis of moire fringe produced by centrosymmetric gratings

    新井泰彦

    J. Modern optics   1987年

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  • Method of obtaining fine binary picture by scanning Moire method

    新井泰彦

    BJSPE   1987年

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  • 標本化格子によるモアレ縞プロフィルの数値解析法 査読

    新井泰彦

    光学   1987年

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  • 走査モアレ法における画像2値化の一手法について 査読

    新井泰彦

    精密工学会誌   1986年

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  • 点対称格子によるモアレ縞のプロフィル推定ならびに鮮鋭化 査読

    新井泰彦

    光学   1986年

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  • 誤差を持つ格子によるモアレ縞の解析法 査読

    新井泰彦

    光学   1986年

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  • A High-Resolution Encoder by Multiplication of Moire Fringes

    新井泰彦

    Bulletin of the Japan Society of Precision Engineering   1986年

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  • 走査モアレ法のしま次数自動決定法 査読

    新井泰彦

    精密工学会誌   1986年

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  • 点対称格子と直線格子によるモアレ縞の解析について 査読

    新井泰彦

    光学   1985年

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  • 点対称格子によるモアレ縞の解析 査読

    新井泰彦

    光学   1985年

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  • 走査モアレ縞の代表値について

    新井泰彦

    精密機械   1985年

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  • モアレ縞の明暗分布のタコメータへの応用 査読

    新井泰彦

    精密機械   1983年

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書籍等出版物

  • スペックル干渉計測法を基礎とする超解像技術の二次元化によるバイオ分野への利用の可能性 査読

    新井 ┣K00630┫彦（ 担当： 単著）

    養賢堂・機械の研究  2022年1月 

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  • スペックル干渉計測技術を用いた微細構造の三次元形状計測 査読

    新井 泰彦（ 担当： 単著）

    機械の研究  2018年11月 

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  • 実用精密位置決め技術辞典

    新井泰彦（ 担当： 分担執筆）

    産業技術サービスセンター  2008年12月 

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  • Web－Based Coordinated Education Activation System（CEAS） and Education Quality Improvement

    Masahiko Fuyuki, Yasuhiko Arai, Michiyuki Hirokane, Ryoichi Tsuchihasi, Hitoshi Sugimoto（ 担当： 共著）

    Next Generation Photonics and Media Technologies  2007年 

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    eds., J. Yoshida and H. Sasabe, Matsuura Printing Co. Chitose, Japan

    researchmap

  • モアレトポグラフィを用いた応力解析の可能性 査読

    新井泰彦（ 担当： 共著）

    実験力学  2003年 

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  • イメージインテンシファイアにより得られたマイクロカンチレバーの縞画像解析 査読

    新井泰彦（ 担当： 共著）

    機械の研究  2001年 

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  • Mathematicaの縞解析技術での利用 査読

    新井泰彦（ 担当： 共著）

    機械の研究  2000年 

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  • モアレ応用干渉縞計測法による可視化 査読

    新井泰彦（ 担当： 共著）

    機械の研究  1997年 

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  • モアレ縞・干渉縞応用計測法

    新井泰彦（ 担当： 共著）

    コロナ社  1996年 

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  • 長ストロークリニアスケールの開発 査読

    新井泰彦（ 担当： 単著）

    機械の研究  1995年 

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  • 光学式ロータリーエンコーダーの生産時における調整システムの開発 査読

    新井泰彦（ 担当： 単著）

    機械の研究  1993年 

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  • 周波数変調技術を用いたモアレ縞・干渉縞の解析 査読

    新井泰彦（ 担当： 共著）

    『応用物理』 

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MISC

  • 関西大学工学部機械系学科におけるカリキュラムポリシー

    新井泰彦

    工学教育   Vol. 54, 71-76   2006年

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教育内容・方法の工夫（授業評価等を含む）

  • 　計測工学の講義には，「不確かさ」という概念がある．この概念は，従来の「誤差論」と取り違われていることが多く，一般の教科書においても誤った解説がなされていることがある． 　2011年度からの新しいカリキュラムでは，「計測工学」は，一年次配当となり，この概念の理解は従来の二年次配当時に比べてさらに難しくなっている．この概念を一年生に説明するために，三回にわたって，段階的な内容でのレポートを講義の前に予習として課す学習システムを新たに構築した．そのための教材を作成し，この「教材」と「予習としてのレポート」さらに「講義」とを連携して，誤りのない理解を促す講義の実施に向けた取り組みを工夫した．

作成した教科書、教材、参考書

  • 　上記「不確かさ」に関する教材を作成した．この教材そのものは，「基礎知識の学習」「不確かさの基本概念の学習」「実演習」三つの要素からなるもので，それぞれレポートの提出が求められるとともに，講義と連携した学習・理解が可能な構成としている． 　学生は，まず教材をwebから落とし，「基礎知識の学習」を読み，求められたレポートを提出する．その後，講義で再び「基礎知識の学習」についてレポートで理解が進んでいない部分を特に解説をするように努めた．さらに，これに関する演習を用意し，徹底して理解が進む道筋が用意できるように工夫をした． 　同様にして，「不確かさの基本概念の学習」「実演習」を順次行う取り組みとなっている． 　予習・講義・復習の学習パターンが形成されたのちにテストを行うことによって，学習内容の整理を行わせている． 　今後さらに内容の検討を行う予定である．　「不確かさ」の概念の理解にとどまらず，学生が他の概念を理解する場合の学習プログラムとして拡大させることも考えている．

教育方法・教育実践に関する発表、講演等

  • 　関西大学教育推進部が発刊する『関西大学　教育推進フォーラム』創刊号に関西大学における全学共通教育についての状況を「全学共通科目における文章力向上プログラムの現状と課題」と題して報告した．

その他教育活動上特記すべき事項

  • 　特になし